Giới thiệu bộ đầu đo từ trường EMC phạm vi gần SRF5030T
SRF5030T là bộ phụ kiện dược sử dụng cho dòng máy phân tích phổ SSA3000X của Siglent, nó bao gồm các đầu đo từ trường (H) và điện trường (E) sử dụng để thực hiện các phép đo về việc tuân thủ EMC về phát xạ và bức xạ
Loại que đo này được sử dụng ở phạm vị gần các nguồn bức xạ điện từ, chúng dùng để xác định vị trí của các nguồn gây nhiễu tiềm ẩn trong các bo mạch điện tử. Các đầu đo này hoạt động tương tự như các ăng-ten băng thông rộng, thu phát bức xạ điện tử từ các linh kiện, PCB, khe hở hoặc khoảng trống ngoài vỏ của bất kỳ bộ phận nào có thể phát ra tín hiệu RF, chúng được kết nối với máy phân tích phổ để làm việc
Sử dụng nhanh chóng bằng cách quét que đo trên bề mặt của thiết bị hoặc vỏ PCB nhanh chóng xác định vị trí của các bức xạ điện tử rò rỉ. Bằng cách thay đổi sang đầu dò có kích thước nhỏ hơn, bạn có thể kiểm tra được các rò rỉ nhỏ
Ứng dụng của que đo từ trường EMC
– Kiểm tra miễn nhiễm với RF
– Sử dụng trong việc sửa chữa hoặc gỡ lỗi để theo dõi các vấn đề xảy ra trong chuỗi tín hiệu RF
– Đo không tiếp xúc tín hiệu RF
– Kiểm tra các khối RF như bộ điều biến hoặc bộ dao động
– Đo lường các thành phần tần số, nhiễu pha, phổ
Các đặc điểm nổi bật của que đo từ trường Siglent
– Thiết kế mỏng về nhẹ giúp tiện lợi khi thao tác củng như dễ luồn lách vào khoảng hở nhỏ giữa
– Các vòng đo được che chắn tốt để tránh gây nhiễu
– Dải tần số tốt nhất trong khoảng 300kHz – 3Ghz (có thể sử dụng tốt ngoài phạm vi 6GHz)
– Sử dụng đầu nối SMB tránh xoắn cáp khi RF khi quét DUT
– An toàn hơn với lớp phủ cao su cách điện
Cài đặt máy phân tích phổ
Nếu đầu dò từ trường EMC được sử dụng mà không có bộ tiền khuếch đại băng thông rộng, hãy điều chỉnh suy hao đầu dò về mức 0dB và bật bộ tiền khuếch đại bên trong của máy phân tích phổ của bạn lên. Hơn nữa, bạn củng có thể tăng dải động và độ nhạy bằng cách giảm tần số, resolution bandwidth và video bandwidth
Cảnh báo!
Không sử dụng đầu đo từ trường EMC để đo các thiết bị có điện áp DC cao hơn 75V hoặc điện áp AC cao hơn 50Veff. Mặc dù probe đã có sẵn lớp vỏ cao su cách điện, các cạnh nhọn trên linh kiện hoặc thiết bị cần đo có thể làm hỏng lớp cách điện và gây điện giật