Giới thiệu máy kiểm tra cell pin Neware CT-4000
Máy kiểm tra cell pin CT-4000, dựa trên hệ thống thử nghiệm thế hệ thứ 4 của Neware, được đưa ra thị trường vào năm 2008. CT-4000 hỗ trợ một số thử nghiệm như sau: Sạc/xả xung pin EV, DCIR (Điện trở trong dòng điện một chiều), tuổi thọ và tốc độ chu kỳ. CT-4000 chủ yếu áp dụng cho các tổ chức, cao đẳng và đại học và các nhà sản xuất pin EV.